GD-OES – Profiler 2

دستگاه GD-OES – Profiler 2 و تکنیکی که بر آن استوار است، از جمله روش‌های آنالیز و شناسائی مواد می باشد و اساس آن بر برانگیختگی به کمک تخلیه الکتریکی و اندازه‌گیری شدت پرتو تابیده از عنصرهای موجود در نمونه استوار است. برتری اساسی این روش نسبت به روش‌های دیگر، توانایی آن در آنالیز لایه‌به‌لایه از سطح به عمق است. این توانایی به ویژه در آنالیز پوشش ها امتیاز منحصر‌به‌فرد به‌حساب می‌آید. عمده تفاوت دستگاه مدل  GD-OES – Profiler HR با دستگاه مدل GD-OES – Profiler 2 در Focal Length می‌باشد که برای دستگاه مدل GD-OES – Profiler HR برابر 1 متر و برای دستگاه GD-OES – Profiler 2 برابر 0.5 متر ‌می‌باشد.

این محصول ساخت کمپانی هوریبا ژاپن می باشد.

 

توضیحات

دستگاه GD-OES – Profiler 2 از تکنیک تخلیه الکتریکی برای آنالیز مواد بهره می گیرد. این تکنیک از جمله روش‌های آنالیز و شناسائی مواد می باشد و اساس آن بر برانگیختگی به کمک تخلیه الکتریکی و اندازه‌گیری شدت پرتو تابیده از عنصرهای موجود در نمونه استوار می باشد. برتری اساسی این روش نسبت به روش‌های دیگر، توانایی آن در آنالیز لایه‌به‌لایه از سطح به عمق است. این توانایی به ویژه در آنالیز پوشش ها امتیاز منحصر‌به‌فرد به‌حساب می‌آید.

از جمله مزیت‌های دستگاه GD-OES – Profiler 2 و روش تخلیه الکتریکی نسبت به دیگر روش‌ها عبارتند از:

  • سرعت یون‌پراکنی (Sputtering) بالا
  • توانایی بالای آنالیز حجم، پروفیل عمق زیاد، پوشش‌ها، فیلم‌های نازک و سطح
  • آنالیز هم‌زمان کلیه عناصر در سطح از جمله عناصر سبک
  • دقت بالای اندازه‌گیری
  • باریک‌بودن خطوط نشری و کاهش تداخل
  • کم‌بودن گاز آرگون مورد نیاز (کمتر از یک لیتر در هر آنالیز)
  • تمیز‌بودن سطح نمونه بعد از انجام آنالیز
  • کم بودن استاندارد‌های مورد نیاز برای رسم نمودار

آنالیز کمی پروفيل عمقی عناصر با استفاده از GD-OES – Profiler 2 در مورد پوشش‌های زیر انجام می‌شود:

  • پوشش‌های گالوانیکی
  • کربن‌دهی، نیتروژن‌دهی و کربن‌نیتروژن‌دهی
  • پوشش‌های CVD,PVD
  • لایه‌های اکسیدی
  • پوشش‌های نیمه‌هادی
  • ورق‌های فولادی
  • و غیره.

برای آشنایی بیشتر با محصولات مرتبط با آنالیزسطح می توانید روی این لینک کلیک نمایید.

توضیحات تکمیلی

Sample

Type of sample: Conductive or non, fragile or heat sensitive
Sample handling Easy sample handling (no UHV)
Sample diameter:Direct mounting of samples up to 40 cm in diameter
Elements determined: Possible measurement of all elements – up to 47 with the polychromator, unlimited number with the monochromator.
(Note: F and He are requiring the use of Ne gas instead of standard Ar). Molecular bands are also measurable

Source

UFS*" Ultra Fast Sputtering (UFS) Operation Mode for fast sputtering of polymeric layers
Double pumping" Double differential vacuum system with 2 pumps offering enhanced depth resolution, deeper craters and the use of
the plasma for sample preparation for EBSD and SEM.
Anode diameters: 4, 2, 7, 8 etc available

RF Plasma

Function: Erosion of the material by sputtering and simultenous excitation of the sputtered species for observation with the spectrometer
Frequency: 13,56 MHz RF generator
Modes: RF, Pulsed RF and Vdc operation with automatic matching* in all modes

Optical system

Interface: Optimum direct view to the plasma (no fbers, no beam splitters)
Polychromator focal length: 50 cm focal with Polyscan* function offering scanning facility around the poly lines.
Spectral range: Double polychromator with extended spectral range coverage from the VUV (120 nm for H and D) to the near IR (K at 766 nm) with 2 gratings – frst for the VUV/UV/visible range and second one using the zero order light of the main grating for the alkali.
Polychromator gratings" Dedicated gratings, 2400gr/mm triple order for optimum light throughput and resolution in the VUV/UV and 1200gr/
mm for the alkali.
Monochromator: High resolution Monochromator (64 cm, Czerny Turner – choice of grating 2400 or 3600 gr/mm) with direct observation for simultaneous measurement of any n+1 element in depth profle and with Image function built in (full spectrum record).
Purge: Overpressure of the optics for Long Life Time and absence of contamination assured by neutral gas purge

Detection

HDD* High Dynamic Detectors offering a dynamic of the measurement of at least 5* 109 for all lines without any preadjustment of the sensitivity of the detectors

Software

Operating system" Windows 7
Language" Multilanguage Software
Display: Real Time Display of the recorded profles
Analytical support: Time Plus and Plasma Cleaning functions built in.
Quantifcation algorithms built in
DBs of spectral lines, possible interferences, Relative Sputtering Rates
Software that can be installed on multiple locations with easy Export/Import of analytical information.
Reports: Flexible report generation
Control software" Full control of all operating parameters and re mote control capability for on line customer support

Accessories - Options

Optical confguration: Flexible design offering the possibility to extend/change on site the optical confguration or add the monochromator
without any impact to the light transmission towards the previous lines
Odd samples: Various accessories for handling air sensitive, small or non flat samples
RF coupler*: Possible addition of magnetic felds

Environment

Size: Compact instrument: WxHxD 86 x 125 x 150 cm
Weight: 350kg

ویدئو

fa_IRفارسی
en_USEnglish fa_IRفارسی