GD-OES یک تکنیک تحلیلی است که تجزیه و تحلیل مشخصات عنصری فوق العاده سریع مواد لایه ای را در عمق آنها ارائه می دهد و همزمان اندازه گیری کمی تمام عناصر و ضخامت با وضوح عمق نانومتر را امکان پذیر می سازد. ابزارهای RF GD-OES پالسی کمپانی Horiba Scientific ، با کمک تکنیک (DiP) ، ابزار ایده آلی برای شناخت ، تحقیقات مواد و شرح فرآیند هستند.
منبع RF پالسی ابتکاری ساخت کمپانی Horiba Scientific امکان پروفایل نمودن انواع نمونه های جامد با عملکرد مطلوب را از یک نانومتر تا بیش از 150 میکرومتر فراهم می کند. علاوه بر این ، از این منبع می توان برای تهیه سطوح نمونه برای میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) نیز استفاده نمود. با استفاده از این تکنیک همه عناصر جدول تناوبی از جمله هیدروژن ، دوتریم ، لیتیوم ، کربن ، نیتروژن ، اکسیژن و … را می توان اندازه گیری نمود.
نمایش یک نتیجه