میکروسکوپ نیروی اتمی-رامان

فناوری پیشرفته رامان کمپانی هوریبا، اکنون با تکنولوژی میکروسکوپ های SPM کمپانی AIST-NT ادغام شده است.پلت فرم NanoRaman با ترکیب میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) در مدهای مختلف با اطلاعات دریافتی از آنالیز شیمیایی رامان، دیتای قابل توجهی در اختیار محققین قرار می دهد.

این دستگاه ساخت کمپانی هوریبا ژاپن می باشد.

Description

داشتن اطلاعات فیزیکی و شیمیایی یک ماده به طور همزمان برای پژوهشگران حوزه های مختلف از اهمیت بالایی برخوردار است.

اطلاعات فیزیکی  از جمله توپوگرافی ، سختی ، چسبندگی ، اصطکاک ، پتانسیل سطح ، هدایت الکتریکی و حرارتی ، دما و پاسخ پیزو .

تکنیک های  (SNOM یا NSOM) ، میکروسکوپ تونل زنی اسکن (STM) ، حالت های تصویربرداری نیروی برشی و نیروی عادی، الکتروشیمی همه از جمله ویژگی های فیزیکی هستند که با استفاده از مدهای مختلف میکروسکوپ های SPM  از جمله میکروسکوپ نیروی اتمی قابل حصول است و همزمانی دریافت اطلاعات شیمیایی فیزیکی توسط میکروسکوپ نیروی اتمی-رامان دریچه نوینی از دیتا را پیرامون ماده،در اختیار پژوهشگران قرار می دهد.

برای آشنایی بیشتر با محصولات این رده کالایی می توانید روی این لینک کلیک نمایید.

Additional information

Sample scanning range

100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

Scanning type by sample

XY non-linearity 0.05 %; Z non-linearity 0.05 %

Noise

0.1 nm RMS in XY dimension in 200 Hz bandwidth with capacitance sensors on; 0.02 nm RMS in XY dimension in 100 Hz bandwidth with capacitance sensors off; < 0.04 nm RMS Z capacitance sensor in 1000 Hz bandwidth

Resonance frequency

XY: 7 kHz (unloaded); Z: 15 kHz (unloaded)

X, Y, Z movement

Digital closed loop control for X, Y, Z axes; Motorized Z approach range 18 mm

Sample size

Maximum 40 x 50 mm, 15 mm thickness

Sample positioning

Motorized sample positioning range 5 x 5 mm

Positioning resolution

1 µm

Laser wavelength

1300 nm, non-interfering with spectroscopic detector

Alignment

Fully automated cantilever and photodiode alignment

Probe access

Free access to the probe for additional external manipulators and probes

SPM Measuring Modes

Contact AFM in air/(liquid optional); Semicontact AFM in air/(liquid optional); Non -contact AFM; Phase imaging; Lateral Force Microscopy (LFM); Force Modulation; Conductive AFM (optional); Magnetic Force Microscopy (MFM); Kelvin Probe (Surface Potential Microscopy, SKM, KPFM); Capacitance and Electric Force Microscopy (EFM); Force curve measurement; Piezo Response Force Microscopy (PFM); Nanolithography; Nanomanipulation; STM (optional); Photocurrent Mapping (optional); Volt-ampere characteristic measurements (optional)

ویدئو

resources

en_USEnglish
fa_IRفارسی en_USEnglish