Description

داشتن اطلاعات فیزیکی و شیمیایی یک ماده به طور همزمان برای پژوهشگران حوزه های مختلف از اهمیت بالایی برخوردار است.

اطلاعات فیزیکی  از جمله توپوگرافی ، سختی ، چسبندگی ، اصطکاک ، پتانسیل سطح ، هدایت الکتریکی و حرارتی ، دما و پاسخ پیزو .

تکنیک های  (SNOM یا NSOM) ، میکروسکوپ تونل زنی اسکن (STM) ، حالت های تصویربرداری نیروی برشی و نیروی عادی، الکتروشیمی همه از جمله ویژگی های فیزیکی هستند که با استفاده از مدهای مختلف میکروسکوپ های SPM  از جمله میکروسکوپ نیروی اتمی قابل حصول است و همزمانی دریافت اطلاعات شیمیایی فیزیکی توسط میکروسکوپ نیروی اتمی-رامان دریچه نوینی از دیتا را پیرامون ماده،در اختیار پژوهشگران قرار می دهد.

برای آشنایی بیشتر با محصولات این رده کالایی می توانید روی این لینک کلیک نمایید.